描述：HELIUS 300手持式X熒光光譜儀選用高性能Si-pin探測器，廣泛應用于合金、土壤和貴金屬分析領域。
性能特點
快速、無損的分析檢測
結合了強大的基本參數(shù)法（FP），只要選擇符合需求的應用，可秒級判定金屬牌號，延長數(shù)秒檢測時間即可獲得實驗室級別的分析結果
值得信賴的檢測結果
采用高性能 SDD 探測器和*算法的高性能 AXRUNI系統(tǒng)設計可提供您可以信賴的準確元素分析結果
隨時隨地檢測
人體工學設計，重量輕，體積小，握持平衡性好
錐形測試頭可輕松檢測彎曲或拐角部分，如焊縫等
大容量電池確保10-12小時現(xiàn)場檢測工作
維護成本低
開箱即可使用，圖標式用戶界面, 直觀簡單
無防扎窗口設計有效保護設備前端
堅固耐用，防塵防水性能達到IP54標準，可在-10°C～50°C溫度范圍內連續(xù)正常工作，從容應對野外作業(yè)環(huán)境挑戰(zhàn)
友好的操作軟件
智能操作系統(tǒng)，操作簡單、便捷
5寸彩色觸摸屏，具有背光功能，戶外強光下也能清晰看到屏幕數(shù)據(jù)顯示
用戶可對現(xiàn)有牌號庫進行修改，添加新牌號或創(chuàng)建自己的牌號庫
產(chǎn)品選型
